CT 系列

CT-6高低温探针台

CT-6 高低温探针台采用密闭腔结构,在氮气正压环境下样品低温无结霜,优化的腔体保温结构可大幅减少液氮消耗;可升降调节以适配探针卡,结构模块化可无缝升级,可根据客户需求定制。

型号
CT-6 / CT-8 / CT-12
品牌
普竞思
产地
中国
定制
支持非标定制
样品尺寸
最大 12 英寸
温度范围
-80°C ~ +400°C
温控精度
0.01°/0.1°/1°
重量
约 120–150 kg

产品特点

  • 最大可用于 12 英寸以内样品测试。
  • 采用密闭腔结构,屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。
  • 优化的腔体保温结构可以极大的减少液氮消耗量。
  • 可升降调节适合加装探针卡。
  • 可搭配多种类型显微镜。
  • 结构模块化设计,可无缝升级。
  • 探针台可根据客户要求定制。

应用领域

半导体测试 高低温测试 光电测试 材料研究 晶圆测试

产品型号与规格

型号样品台尺寸X-Y 移动行程X-Y 移动精度样品固定针座平台升降温控精度重量温度范围
CT-66 英寸6×6 英寸10 μm真空吸附 / 中心孔 / 多圈吸附环U 型,6–12 个探针座快速升降 10mm / 微调 10mm0.01°约 120 kg-80°C ~ +400°C
CT-88 英寸8×8 英寸1 μm0.1°约 150 kg
CT-1212 英寸12×12 英寸1 μm约 150 kg

高低温探针台如何控霜?

密闭腔体在氮气正压环境下隔绝水汽,配合优化的保温结构减少液氮消耗,确保样品在低温段无结霜、测试稳定。

如何匹配显微镜与探针卡?

可搭配单筒 / 体式 / 金相显微镜,腔体可升降以适配探针卡;模块化结构支持后续无缝升级。

需要选型帮助?

提供仪器类型、重量尺寸与场地条件,工程师将为您匹配合适的隔振方案与型号配置。